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专利库
专利名称:
探测大气折射率结构常数Cn2
英文名称:
专利类别:
实用新型
申请号:
200620099667.2
申请日期:
2006.10.27
授权日期:
2007.10.24
专利号:
第一发明人:
戴 阳;龚顺生;李发泉;程学武
其它发明人:
国外申请日期:
国外申请方式:
专利授权日期:
2007.10.24
缴费情况:
实施情况:
专利证书号:
专利摘要:
其它备注:
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中国科学院武汉物理与数学研究所
地址：武汉市武昌小洪山 电话: 027-87199543
